Il SEM (Microscopio elettronico a scansione) è uno strumento molto utile nell’indagine micro e nano-strutturale. Esso permette lo studio ad alto ingrandimento delle superfici (fratture, topografia). Sono raggiungibili 30000x rispetto ai 1000x della microscopia ottica convenzionale con il mantenimento della profondità di campo e tridimensionalità dell’immagine.
L’accoppiamento della microsonda EDX al SEM rende inoltre possibile identificare la chimica di componenti di ridottissime dimensioni quali ad esempio le inclusioni e i rivestimenti superficiali.
Utilizzatori
Tecnici di centri di R&S
Quality Manager
Production Manager
Attrezzature / Macchinari
SEM LEO 438 VP
Risoluzione: Modalità ad alta pressione 4.0 nm
Modalità a bassa pressione 6.0 nm
Tensione di accelerazione: da 300 V a 30 kV
Corrente del filamento: da 1pA a 500nA
Ingrandimenti: da 15x a 300kx
Filamento: Tungsteno (W)
Dimensioni della camera:190x300x265 mm HxLxP
Movimentazione dello stage motorizzato su 5 assi
MICROSONDA EDX BRUKER QUANTAX COMPACT con rivelatore X-Flash 610 Mini
Rilevatore Xflash 610Mini con area attiva 10mm2
Risoluzione ≤ 126eV@MnKα
Raffreddamento a cella di Peltier
Software Esprit Compact
